Method and system for testing rfid devices

Details Method and system for testing rfid devices Method and system for testing rfid devices

G - Physics

06

K

G06K 7/00 (2006.01)

Patent

CA 2591558

A method and system for testing a plurality of RFID devices disposed on a common carrier. In one embodiment, the RFID devices are evenly spaced along the length of the carrier, and the system comprises a short-range tester, a long-range tester and a computer, the short-range tester being coupled to the computer and having a short-range testing position, the long-range tester being coupled to the computer and having a long-range testing position, the long-range testing position being spaced downstream from the short-range testing position by a known number of device positions. In use, an RFID device of interest is first positioned at the short~ range testing position, and the short-range tester reads a unique identifier for that RFID device and communicates the identifier to the computer. The carrier is then advanced so that subsequent RFI D devices are read by the short-range tester. When the RFID device of interest has advanced to the long-range testing position, the long~range tester conducts a performance test and communicates any detected results to the computer. Because the distance between the two testing positions is known, the computer knows when the RFID device of interest is at the long-range testing position and uses the identifier to distinguish the results for that device from the results of any other devices.

L'invention concerne un procédé et un système pour tester une pluralité de dispositifs RFID placés sur un support commun. Dans une forme de réalisation, les dispositifs RFID sont espacés régulièrement sur la longueur du support, et le système comprend un testeur à courte portée, un testeur à longue portée et un ordinateur. Le testeur à courte portée est couplé à l'ordinateur et comporte une position d'essai à courte portée; le testeur à longue portée est couplé à l'ordinateur et comporte une position d'essai à longue portée, ladite position étant espacée en aval de la position d'essai à courte portée selon un nombre connu de positions de dispositifs. A l'utilisation, un dispositif RFID est d'abord placé dans la position d'essai à courte portée, le testeur à courte portée lit l'identificateur unique du dispositif RFID et le transmet à l'ordinateur. Le support est ensuite avancé de manière à permettre au testeur à courte portée de lire les dispositifs RFID ultérieurs. Lorsque le dispositif RFID testé a atteint la position d'essai à longue portée, le testeur à longue portée met en oeuvre un test de performances et transmet les résultats détectés à l'ordinateur. La distance entre les deux positions d'essai étant connue, l'ordinateur sait quand le dispositif RFID testé se trouve dans la position d'essai à longue portée et utilise l'identificateur pour distinguer les résultats de ce dispositif des résultats d'autres dispositifs.

Affiliated with

Also associated with

Rating

Method and system for testing rfid devices does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with Method and system for testing rfid devices, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Method and system for testing rfid devices will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

Comments { 0 }

Profile ID: LFCA-PAI-O-1492125