G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 11/24 (2006.01) G06K 9/00 (2006.01)
Patent
CA 2463570
A method and system for visualizing deviations on an actual surface (10) from a nominal, or designed, surface utilizes a system and method for mapping the spatial (e.g. x, y and z) coordinates of the actual surface (10) into a computer (13), comparing the mapped actual surface (10) to the nominal surface to produce a three-dimensional distribution of deviation values (D), processing this distribution into a topographical pattern (34) of multiple contours or areas (34a ... 34n), each contour or area having the same, or generally the same, deviation value (D), and optically projecting this topographical pattern (34) onto the actual surface (10) in registry with the initial surface mapping to provide a display of the surface deviations (D) directly on the actual surface (10). The deviations are measured along a direction D normal to the actual surface so that the three-dimensional distribution is given in x, y, D coordinates. The optical projection is preferably a laser projection (38). The mapping and projection onto the actual surface (10) are made, and coordinated with one another, with respect to three reference points (32) on the surface (10).
L'invention concerne un procédé et un système permettant de visualiser des écarts sur une surface réelle (10, 30) par rapport à une surface nominale (28), ou dessinée, qui utilisent un système et un procédé qui consistent à cartographier les coordonnées spatiales (par exemple x, y et z) de la surface réelle (10, 30) sur un ordinateur (13), à comparer la surface réelle cartographiée à la surface nominale (28) afin de réaliser une distribution tridimensionnelle des valeurs d'écart (D), à traiter cette distribution en motif topographique (34) de contours ou zones multiples (34a ... 34n), chaque contour ou zone présentant la même, ou généralement la même, valeur d'écart (D), et à projeter optiquement ce motif topographique (34) sur la surface réelle (10, 30) en concordance avec la cartographie initiale de la surface afin de produire un affichage des écarts superficiels (D) directement sur la surface réelle (10, 30). Ces écarts sont mesurés suivant une orientation D perpendiculaire à la surface réelle, ce qui permet de donner la distribution tridimensionnelle en coordonnées x, y, D. La projection optique est, de préférence, une projection laser (38). La cartographie et la projection sur la surface réelle (10, 30) sont effectuées et coordonnées par rapport à trois points de référence (32) sur ladite surface (10, 30).
Kaufman Steven P.
Savikovsky Arkady
Laser Projection Technologies Inc.
Riches Mckenzie & Herbert Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2068095