G - Physics – 06 – T
Patent
G - Physics
06
T
G06T 7/60 (2006.01) G06T 7/00 (2006.01)
Patent
CA 2202611
Method for selecting tie point locations (62) within a series of overlapping images. Initially the series of images (48) are ordered to maximize the potential for phase correlations between adjacent images. Adjacent pairs in the ordered images are then phase correlated (50) to determine the translational offsets between adjacent pairs. The overlapping regions in adjacent pairs are assessed for normalized cross correlation and initial candidate tie points are selected within the regions at a reduced resolution. The initially selected tie points are then phase correlated at full resolution (66) and any surviving candidate tie point locations are further refined to sub-pixel accuracy.
L'invention porte sur un procédé de sélection d'emplacements de points de rattachement (62) dans une série d'images se chevauchant. Les séries d'images (48) sont initialement classées de façon à maximiser les possibilités de corrélation de phase entre images contiguës. Des paires contiguës d'images classées sont ensuite soumises à une corrélation de phase (50) afin de déterminer les décalages translationnels entre paires contiguës. On établit des valeurs estimatives des régions de chevauchement de ces paires contiguës aux fins d'une corrélation croisée normalisée et l'on sélectionne les points de rattachement initiaux candidats dans les régions, à une résolution réduite. Ces points de rattachement choisis au départ sont alors soumis à une corrélation de phase à pleine résolution (66) et l'on affine une nouvelle fois tous les points de rattachement candidats restants selon des critères de précision de l'échelle du sous-pixel.
Bowden Ronald Lloyd
Givens Fenton Lynwood
E-Systems Inc.
Kirby Eades Gale Baker
Raytheon Company
LandOfFree
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