Method for bispectral picking of anelliptical nmo correction...

G - Physics – 01 – V

Patent

Rate now

  [ 0.00 ] – not rated yet Voters 0   Comments 0

Details

G01V 1/28 (2006.01)

Patent

CA 2533011

Method of determining the velocity V and anellipticity .eta. parameters for processing seismic traces in a common midpoint (CMP) gather comprising: -a preliminary step to define a plurality of nodes (dtn, .tau.0) - for each node (dtn, .tau.0) defined in the preliminary step, the following steps: - for static NMO correction of traces in the CMP gather as a function of the values of the said parameters dtn and .tau.0 at the node considered, and calculation of the semblance function associated with the said NMO correction for the node considered; and - for each picked time t0, a step including determination of the maximum semblance node (dtn(t0), .tau.0 (t0) ) - and a final step to convert the dtn (t0) and .tau.0(t0) parameters, so as to obtain the velocity (t0) and anellepticity .eta.(t0) laws.

Procédé permettant de déterminer des paramètres de vitesse V et de manque d'ellipticité .eta. pour le traitement de traces sismiques dans une collection de points milieux communs (CMP), comportant une étape préliminaire de deux définitions de plusieurs noeuds (dtn, .tau.¿0?), et, pour chaque noeud (dtn, .tau.¿0?) défini dans l'étape préliminaire, les étapes suivantes: pour la correction NMO statique de traces dans la collection CMP en fonction des valeurs desdits paramètres dtn et .tau.¿0? au niveau du noeud considéré, le calcul de la fonction de semblance associée et à ladite correction NMO pour le noeud considéré; et, pour chaque instant sélectionné t¿0?, étapes consistant à déterminer le noeud de semblance maximale (dtn(t¿0?), .tau.¿0?(t¿0?)); ainsi qu'une étape finale de transformation des paramètres dtn(t¿0?) et .tau.¿0?(t¿0?) de manière à obtenir les lois de vitesse V(t¿0?) et de manque d'ellipticité .eta.(t¿0?).

LandOfFree

Say what you really think

Search LandOfFree.com for Canadian inventors and patents. Rate them and share your experience with other people.

Rating

Method for bispectral picking of anelliptical nmo correction... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with Method for bispectral picking of anelliptical nmo correction..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Method for bispectral picking of anelliptical nmo correction... will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

     

Profile ID: LFCA-PAI-O-1615472

  Search
All data on this website is collected from public sources. Our data reflects the most accurate information available at the time of publication.