G - Physics – 01 – D
Patent
G - Physics
01
D
G01D 5/244 (2006.01) G01D 5/249 (2006.01) G01D 18/00 (2006.01)
Patent
CA 2440669
The invention relates to a method and device for calibrating a measuring instrument with at least two partial systems (<I>K;M</I>), which can be displaced with regard to one another, and with means for generating an image of at least one first partial system (<I>K</I>) on at least one detecting component (<I>A</I>) of at least one partial system. The invention provides that after establishing a mathematical model, a parameter set, which quantifies influencing factors on systematic measurement errors of the measuring instrument and which has at least one parameter, is derived from the mathematical model. Afterwards, the imaging of the structure elements (<I>S</I>) of a first partial system (<I>K</I>), said structure elements determining the relative position of a partial system, ensues on a second partial system (<I>M</I>). The image of the structure elements (<I>S</I>) of the first partial system (<I>K</I>) is converted into signals by the detecting component (<I>A</I>), and at least one signal vector is recorded. Correction values, which reduce systematic measurement errors of the measuring instrument, are derived from the estimated values of the parameter set and made available.
L'invention concerne un procédé et un dispositif pour le calibrage d'un instrument de mesure comprenant au moins deux systèmes partiels (<i>K, M</i>) déplaçables l'un vers l'autre et des moyens pour générer une reproduction d'au moins un premier système partiel (<i>K</i>) sur au moins une composante détectrice (<i>A</i>) d'au moins un système partiel. Selon l'invention, après la création d'un modèle mathématique, un jeu de paramètres quantifiant des facteurs d'influence concernant des erreurs de mesure systématiques de l'instrument de mesure et comprenant au moins un paramètre est déduit du modèle mathématique. On procède ensuite à la reproduction d'éléments de structure (<i>S</i>) déterminant la position relative d'un premier système partiel (<i>K</i>) sur un deuxième système partiel (<i>M</i>), à une conversion en signaux par la composante détectrice (<i>A</i>) de la reproduction des éléments de structure (<i>S</i>) du premier système partiel (<i>K</i>) et à un enregistrement d'au moins un vecteur de signal. Des valeurs de correction réduisant des erreurs de mesure systématiques de l'instrument de mesure sont déduites des valeurs estimées du jeu de paramètres et mises à disposition.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Leica Geosystems Ag
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1517389