H - Electricity – 04 – N
Patent
H - Electricity
04
N
H04N 5/217 (2011.01)
Patent
CA 2751816
The invention relates to a method for correcting an image obtained by a matrix of photosensitive points. It finds particular utility when the matrix is subjected to an electromagnetic disturbance. According to the invention, the method of correction comprises a first step (E2) of row-by-row reading of the matrix. The signals read during a first reading of each row represent the charges accumulated subsequent to exposure of the matrix to luminous radiation and make it possible to form, for each column of the matrix, a discrete signal X real(n). The signals read during a second reading represent the charges accumulated in the absence of exposure and form, for each column of the matrix, a discrete signal OF(n). In a second step (E3) of the method, a signal OFX(n) corresponding substantially to the signal OF(n) which would have been formed at the time of the first reading in the absence of exposure is determined. In a third step (E4), the signal OFX(n) is subtracted column by column from the signal X real(n).
L'invention concerne un procédé de correction d'une image obtenue par une matrice de points photosensibles. Elle trouve une utilité particulière lorsque la matrice est soumise à une perturbation électromagnétique. Selon l'invention, le procédé de correction comprend une première étape (E2) de lecture ligne par ligne de la matrice. Les signaux lus lors d'une première lecture de chaque ligne représentent les charges accumulées suite à une exposition de la matrice à un rayonnement lumineux et permettent de former, pour chaque colonne de la matrice, un signal discret X réel (n). Les signaux lus lors d'une deuxième lecture représentent les charges accumulées en l'absence d'exposition et forment, pour chaque colonne de la matrice, un signal discret OF (n) . Dans une deuxième étape (E3) du procédé, un signal OFX(n) correspondant sensiblement au signal OF(n) qui aurait été formé au temps de la première lecture en l'absence d'exposition est déterminé. Dans une troisième étape (E4), le signal OFX(n) est soustrait colonne par colonne du signal X réel (n).
Candiard Benoit
Vignolle Jean-Michel
Wirth Thibaut
Marks & Clerk
Trixell S.a.s.
LandOfFree
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