Method for detecting elements in solutions and device for...

G - Physics – 01 – N

Patent

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G01N 27/62 (2006.01) H01J 49/10 (2006.01) H01J 49/36 (2006.01) H01J 49/40 (2006.01) G01N 33/18 (2006.01) G01N 33/24 (2006.01) G01N 33/483 (2006.01)

Patent

CA 2325060

The present invention pertains to the construction of analytical instruments and may be used for analysing natural or industrial waters, biological samples as well as geological samples. The method for detecting elements in solutions comprises pulverising the samples using pulses, ionising the pulverised atoms during Penning's collisions and recording the ions thus formed during a mass spectral analysis while carrying out a separation of the ion time-of-flight. The pulse pulverisation of the sample is carried out from a surface which is heated at a temperature of between 1000 and 1500 ~C and on which the sample dried in a flow of ballast gas forms a dry residue. The ballast gas may consist of Kr, Xe or mixtures thereof with Ar under a pressure of between 1 and 2 torrs. The device for detecting elements in solutions comprises an ionising device which is arranged in a gas-discharge chamber filled with an inert gas. The detection device further includes a time-of-flight mass spectrometer which comprises an ion sampling and focusing system as well as a reflective mass in the shape of a spectral analyser. The ionising device is made in the shape of a thin-wall, metallic, cylindrical and hollow cathode that comprises a dosing opening which is used for introducing the sample to be analysed and which is located on a same axis with a vacuum port.

Cette invention se rapporte à la construction d'instruments d'analyse et peut être utilisée lors de l'analyse d'eaux naturelles ou industrielles, d'échantillons biologiques ou d'échantillons géologiques. Ce procédé de détection d'éléments dans des solutions consiste à pulvériser les échantillons à l'aide d'impulsions, à ioniser les atomes ainsi pulvérisés lors de collisions de Penning, et à enregistrer les ions qui se sont ainsi formés au cours d'une analyse par spectre de masse en effectuant une séparation du temps de vol des ions. La pulvérisation par impulsions de l'échantillon se fait depuis une surface qui est chauffée à une température de 1000 à 1500 ·C et sur laquelle l'échantillon séché dans un flux de gaz de lestage forme un résidu sec. On utilise, en qualité de gaz de lestage, du Kr, du Xe ou des mélanges de ces derniers avec de l'Ar à une pression de 1 à 2 torrs. Le dispositif de détection d'éléments dans des solutions comprend un dispositif d'ionisation qui est disposé dans une chambre à décharge de gaz contenant un gaz inerte. Ce dispositif de détection comprend également un spectromètre de masse à temps de vol qui comprend un système de prélèvement et de focalisation des ions, ainsi qu'une masse réfléchissante consistant en un analyseur spectral. Le dispositif d'ionisation se compose d'une cathode creuse, cylindrique, métallique et à paroi fine, laquelle cathode comprend une ouverture de dosage qui sert à introduire l'échantillon à analyser et qui est disposée sur le même axe qu'un orifice à vide.

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