G - Physics – 01 – C
Patent
G - Physics
01
C
G01C 3/32 (2006.01) G01S 5/16 (2006.01) G01S 17/48 (2006.01) A61B 6/08 (2006.01) A61B 19/00 (2006.01) F41G 11/00 (2006.01) G01S 7/48 (2006.01)
Patent
CA 2324220
The invention relates to a method for determining the spatial and rotational positions of an object (1). With the assistance of an imaging optical system (5), the object (1) is mapped and detected on a high- sensitivity resolution optoelectronic detector (7). The location parameter of the object (1), such as the position vector (r~), the direction vector (~) of the object axis (4), and the angle (~) of rotation of the object (1) around the object axis (4) is determined from the planar position of the mapped object structures (2a; 2b) in the coordinate system (X Det, Y Det) of the detector (7) by means of geometric optical relationships and mathematical evaluation methods. With this, the spatial position of the object (1) is determined in a quick and contactless manner.
L'invention concerne un procédé qui permet de déterminer la position spatiale et la position angulaire d'un objet (1). Celui-ci, au moyen d'un dispositif d'imagerie optique (5), est représenté et détecté sur un détecteur opto-électronique (7) à haute résolution. A partir de la position dans le plan des structures (2a, 2b) de l'objet représentées dans un système de coordonnées (xDet, yDet) du détecteur (7), les paramètres de position de l'objet (1), telles que le vecteur de position (r?0?), le vecteur de direction (v) de l'axe (4) de l'objet et l'angle de rotation ( kappa ) de l'objet (1) sur l'axe (4), sont déterminés au moyen de relations géométrico-optiques et de méthodes mathématiques d'analyse. On obtient ainsi rapidement et sans contact la position spatiale de l'objet (1).
Aebischer Beat
Appius Raphael
Braunecker Bernhard
Gowling Lafleur Henderson Llp
Leica Geosystems Ag
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1730628