G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/39 (2006.01)
Patent
CA 2330531
The invention concerns a method for detecting gas traces with a semiconductor laser coupled with an optical resonant cavity containing a species to be analysed. The laser is coupled with the cavity so that the light is not projected back towards the laser when the cavity is in resonance mode. The laser supplies an amplified and fine-tuned emission on the re-injected frequency and, when a current pulse is applied thereon, its frequency moves from a predetermined initial frequency to a final predetermined frequency. The laser is excited by a first current pulse such that its frequency is sequentially locked on the cavity successive modes. The luminous intensity decreasing time in the cavity is measured at the end of the pulse and the excitation and measurement steps are repeated for successive current pulses, to cover a spectral range to be analysed.
L'invention concerne un procédé de détection de gaz à l'état de traces par un laser à semiconducteur couplé à une cavité optique résonante contenant une espèce chimique à analyser. Le laser est couplé à la cavité de sorte que de la lumière ne soit renvoyée vers le laser que quand la cavité est dans un mode de résonance. Le laser fournit une émission amplifiée et affinée sur la fréquence réinjectée et, quand un créneau de courant lui est appliqué, sa fréquence se déplace d'une fréquence initiale déterminée à une fréquence finale déterminée. Le laser est excité par un premier créneau de courant de façon que sa fréquence se verrouille séquentiellement sur des modes successifs de la cavité. On mesure le temps de décroissance de l'intensité lumineuse dans la cavité à la fin du créneau et on répète les étapes d'excitation et de mesure pour des créneaux de courant successifs, pour couvrir une plage spectrale à analyser.
Katchanov Alexandre
Romanini Daniele
Norton Rose Or S.e.n.c.r.l. S.r.l./llp
Universite Joseph Fourier
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1589230