G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 11/30 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01) G06T 7/00 (2006.01)
Patent
CA 2556042
A method and a marking system for locating flaws on a three-dimensional object particularly on its surface, the defective points being detected and located using an optical picture-taking device. To locate a flaw with great accuracy, it is provided that the design data related to the object, the optical imaging properties of the picture-taking device, and the position of the optical picture-taking device and the object are known when the picture is taken, and that the location of the flaw on the object is determined and optionally marked.
L'invention concerne un procédé et un système de marquage pour localiser des endroits défectueux sur un objet tridimensionnel (2), notamment sur la peinture de la carrosserie d'un véhicule. Selon l'invention, les endroits défectueux sont repérés et localisés au moyen d'un dispositif de balayage optique (3, 4). L'invention vise à localiser de manière précise un endroit défectueux. A cet effet, les données conceptuelles (données CAO) de l'objet (2), les propriétés de reproduction optique du dispositif de balayage (3, 4) et de l'objet (2) sont connues lors de la prise de vue, ce qui permet de déterminer un endroit défectueux sur l'objet (2) et de le marquer éventuellement au moyen d'une tête de pulvérisation.
Ersue Enis
Knoche Horst
Wienand Stephan
Isra Vision Systems Ag
Kirby Eades Gale Baker
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1414430