B - Operations – Transporting – 01 – D
Patent
B - Operations, Transporting
01
D
B01D 59/44 (2006.01)
Patent
CA 2543396
We disclose a method for analyzing the composition of a microscopic particle (100) resting on a first sample surface (110). The method comprises positioning a micro-manipulator probe (120) near the particle (100); attaching the particle (100) to the probe (120); moving the probe (120) and the attached particle (100) away from the first sample surface (110); positioning the particle (100) on a second sample surface (150); and, analyzing the composition of the particle (100) on the second sample surface (150) by energy- dispersive X-ray analysis or detection of Auger electrons. The second surface (150) has a reduced or non-interfering background signal during analysis relative to the background signal of the first surface (110). We also disclose methods for adjusting the electrostatic forces and DC potentials between the probe (120), the particle (100), and the sample surfaces (110, 150) to effect removal of the particle (100), and its transfer and relocation to the second sample surface (150).
Il est prévu un procédé d~analyse de la composition d~une particule microscopique (100) reposant sur une première surface échantillon (110). Le procédé consiste à positionner une sonde de micromanipulateur (120) près de la particule (100); à fixer la particule (100) à la sonde (120); à éloigner la sonde (120) et la particule fixée (100) de la première surface échantillon (110); à positionner la particule (100) sur une seconde surface échantillon (150); et à analyser la composition de la particule (100) sur la seconde surface échantillon (150) par analyse aux rayons X à dispersion d~énergie ou détection d~électrons d~Auger. La seconde surface (150) a un signal de fond réduit ou non interférant pendant l~analyse par rapport au signal de fond de la première surface (110). Il est également prévu des procédés de réglage des forces électrostatiques et des potentiels CC entre la sonde (120), la particule (100) et les surfaces échantillons (110, 150) pour enlever la particule (100), puis la transférer et la repositionner sur la seconde surface échantillon (150).
Anthony John M.
Moore Thomas M.
Kirby Eades Gale Baker
Omniprobe Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1900000