Method for marking defect and device therefor

Details Method for marking defect and device therefor Method for marking defect and device therefor

G - Physics

01

N

G01N 21/88 (2006.01) B21B 38/00 (2006.01) B25H 7/00 (2006.01) G01N 21/89 (2006.01) G01N 33/20 (2006.01) B21C 51/00 (2006.01)

Patent

CA 2365879

The defect marking method comprises the steps of: installing a surface defect tester to detect surface flaw and a marker device to apply marking at defect position, in a continuous processing line of steel sheet; detecting the surface flaw on the steel sheet using the surface defect tester; determining defect name, defect grade, defect length, and defect position in the width direction of the steel sheet, on the basis of thus detected flaw information, further identifying the defect in terms of harmful defect, undeterminable defect, and harmless defect; applying tracking of the defect position for each of the harmful defect and the undeterminable defect; and applying marking to the defect position. The defect marking device comprises a defect inspection means having plurality of light-receiving parts and a signal processing section, and a marking means.

Cette invention concerne un procédé de marquage de défauts qui comprend les étapes suivantes: installer, dans une chaîne de traitement continu de plaques d'acier, un détecteur de défauts de surface qui va détecter les imperfections, ainsi qu'un dispositif marqueur qui va marquer la position des défauts; détecter les imperfections sur les plaques d'acier à l'aide du détecteur de défauts de surface; calculer le type des défauts, leur gravité, leur longueur et leur position dans le sens de la largeur en fonction des informations sur les imperfections détectées, puis décider s'il s'agit de défauts présentant des risques ou non, de défauts difficiles à discriminer ou de défauts sans danger; effectuer un suivi des positions individuelles des défauts présentant un risque ou difficiles à discriminer; et enfin, marquer la position des défauts. Cette invention concerne également un dispositif de marquage des défauts comprenant un système de test des imperfections qui comprend plusieurs photorécepteurs et une section de traitement de signaux. Cette invention concerne enfin un système de marquage.

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