G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/20 (2006.01) G01N 23/225 (2006.01) H01J 37/295 (2006.01)
Patent
CA 2532471
The invention relates to a method for determining at least one mechanical parameter of at least one material of a composite system comprising at least two distinct phases. The inventive method consists a) in producing at least one sample comprising the first part of the first phase and the second part of the second phase, said first part consisting of a material to be characterised, the sample having at least one sufficiently small dimension in order to relieve strains therein; b) in measuring at least one deformation parameter of at least said first phase on the sample according to a plurality of points disposed at different distances of an interface between said first and second phases and c) in determining at least one mechanical parameter of said second phase on the basis of at least said deformation parameter.
L'invention porte sur un procédé pour la détermination d'au moins un paramètre mécanique d'au moins un matériau dans un système composite comprenant au moins deux phases distinctes, caractérisé en ce qu'il comporte : a la réalisation d'au moins un échantillon comportant une première partie d'une première phase et une deuxième partie d'une deuxième phase, la deuxième partie étant constituée du matériau à caractériser, l'échantillon ayant au moins une dimension suffisamment faible pour permettre un relâchement des contraintes dans ledit échantillon ; b.la mesure, sur ledit échantillon d'au moins un paramètre de déformation d'au moins ladite première phase, en correspondance d'une pluralité de points situés à des distances différentes d'une interface entre lesdites première et deuxième phase ; et c.la détermination, à partir au moins dudit paramètre de déformation, d'au moins un paramètre mécanique de ladite deuxième phase.
Clement Laurent
Pantel Roland
Rouviere Jean-Luc
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1860612