Method for measuring thickness of an optical disc

Details Method for measuring thickness of an optical disc Method for measuring thickness of an optical disc

G - Physics

01

B

G01B 11/06 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01)

Patent

CA 2490094

A method of measuring thickness of an optical disc by using an interference effect of the optical disc layer is disclosed. The method includes detecting an intensity of a reflective light according to a wavelength of a light as spectrum data for each wavelength, converting the detected spectrum data for each wavelength into a spectrum value as a function of a wavelength that a refractive index is reflected, and detecting a position where the intensity of the reflective light has a peak as a thickness of a spacer layer and a cover layer respectively by converting the converted value into a length of an interference area for representing a layer thickness of the optical disc by the Fast Fourier Transform. The disclosed method has advantages for high precisely measuring thickness of an optical disc.

L'invention concerne un procédé de mesure d'un disque optique à l'aide d'un effet d'interférence de la couche du disque optique. Ledit procédé consiste à détecter l'intensité d'une lumière réfléchissante en fonction de la longueur d'onde d'une lumière représentant des données spectrales pour chaque longueur d'onde, à convertir les données spectrales détectées pour chaque longueur d'onde en une valeur spectrale en fonction d'une longueur d'onde réfléchissant un indice de réfraction, et à détecter une position dans laquelle l'intensité de la lumière réfléchissante est maximale et représente, respectivement, l'épaisseur d'une couche de séparation et d'une couche de recouvrement, par conversion de la valeur convertie en une longueur d'une zone d'interférence pour représenter une épaisseur de couche du disque optique par une transformée de Fourier rapide. Ledit procédé présente des avantages permettant de mesurer de manière très précise l'épaisseur d'un disque optique.

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