G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/3183 (2006.01) G01R 31/316 (2006.01) G01R 31/3167 (2006.01)
Patent
CA 2269914
In the method for constructing a fault dictionary, a description of the circuit is first made. A list of faults is extracted from this description of the circuit, and a fault-free circuit distribution of an output parameter of the circuit is calculated in response to the circuit description. A faulty circuit distribution of the output parameter is calculated in response to the faults of the list, and a fault value is calculated from the fault-free and faulty circuit distributions. The calculated fault value is stored in the fault dictionary in view of subsequently specifying a test vector for application to the circuit in view of testing this circuit. To specify test vectors in view of testing a given circuit, (a) a set of stimuli is first selected and then (b) a stimulus of this set is selected, (c) a fault from a list of faults of the circuit is selected, (d) a fault value related to the selected fault and stimulus is found in a fault dictionary, (e) the fault value found in step (d) is compared to a typical fault value, (f) whether the selected fault is detected or undetected by applying the selected stimulus to the circuit including the selected fault is determined in accordance with the result of the comparison of step (e), (g) steps (b, c, d, e and f) are repeated for each pair of stimulus and fault; and (h) test vectors are built from the stimuli of the set most susceptible to detect faults in the circuit.
Selon un procédé permettant d'élaborer un dictionnaire de pannes, on commence par décrire le circuit. On extrait une liste de pannes de ladite description, puis on calcule la distribution d'un circuit exempt de panne pour un paramètre de sortie dudit circuit en réponse à la description. On calcule la distribution d'un circuit en panne pour le paramètre de sortie en réponse aux pannes de la liste, puis une valeur de panne à partir des distributions de circuit exempt de panne et de circuit en panne. On met en mémoire la valeur de panne calculée dans le dictionnaire de pannes, dans le but de spécifier ultérieurement un vecteur d'essai qui sera appliqué au circuit pour le tester. Afin de spécifier des vecteurs d'essai pour tester un circuit donné, (a) on sélectionne une série de stimuli; (b) on sélectionne un stimulus dans ladite série; (c) on sélectionne une panne dans la liste de pannes; (d) on cherche, dans un dictionnaire de pannes, une valeur de panne reliée à la panne et au stimulus sélectionnés; (e) on compare la valeur de panne trouvée à l'étape (d) à une valeur de panne typique; (f) on détermine si la panne sélectionnée est détectée ou non détectée en appliquant le stimulus sélectionné au circuit qui présente la panne sélectionnée, en fonction du résultat de la comparaison de l'étape (e); (g) on répète les étapes (b), (c), (d), (e) et (f) pour chaque paire de stimulus et de panne; et (h) on construit des vecteurs d'essai à partir des stimuli de la série la plus susceptible de détecter des pannes dans le circuit.
Hamida Naim Ben
Kaminska Bozena
Saab Khaled
Goudreau Gage Dubuc
Opmaxx Inc.
LandOfFree
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