G - Physics – 01 – D
Patent
G - Physics
01
D
G01D 18/00 (2006.01)
Patent
CA 2575585
The invention relates to analytical instrument engineering and can be used for designing calibrating patterns of measuring devices for determining one or several secondary properties of an unknown sample on the basis of the measuring results of a plurality of the primary properties thereof. The inventive method consists in selecting a calibrating set for samples whose secondary properties are known and are defined by means of reference methods, in measuring the primary properties of each said sample by means of a reference device, in converting the measuring results into a form corresponding to the calibratable device, in forming a calibrating pattern enabling to define the analysed secondary properties of the unknown sample on the basis of the measurement of the plurality of primary properties thereof measured by means of the calibratable device. Said method is characterised in that the mathematics for the calibration translations are determined by selecting the combination of samples therefor and the primary properties of each sample are measured by the reference and calibratable devices. The selection of an independent multidimensional calibrating pattern is carried out by comparing the results and by using a method for verifying the accuracy thereof, thereby taking into account the non-linear differences of technical parameters of the calibratable and reference devices and the operating conditions.
L'invention relève de la construction analytique d'instruments, et peut servir à produire des modèles d'étalonnage d'instruments de mesure, qui permettent de déterminer une ou plusieurs propriétés secondaires d'un échantillon inconnu sur la base des résultats de mesure d'une pluralité de propriétés primaires dudit échantillon. Le procédé selon l'invention consiste : à sélectionner un jeu d'étalonnage d'échantillons dotés de propriétés secondaires connues, déterminées par des procédés de référence ; à mesurer, sur un appareil de référence, les propriétés primaires de chacun desdits échantillons ; à convertir les résultats des mesures sous une forme convenant à l'appareil devant être étalonné ; à produire un modèle d'étalonnage permettant de déterminer les propriétés secondaires analysées d'un échantillon inconnu sur la base de la mesure d'une pluralité de propriétés primaires dudit échantillon à l'aide de l'appareil à étalonner. Le procédé selon l'invention est caractérisé en ce que les relations mathématiques de la translation des étalonnages sont déterminées par la sélection d'un jeu d'échantillons prévus à cet effet, et en ce que les propriétés primaires de chaque échantillon sont mesurées tant par l'appareil de support que par l'appareil à étalonner. Un modèle d'étalonnage multidimensionnel indépendant est sélectionné par le biais de la comparaison des résultats et d'une procédure visant à vérifier sa précision, ce qui permet de tenir compte des différences non linéaires des paramètres techniques des appareils à étalonner et de référence, ainsi que des conditions de fonctionnement.
Shamrai Aleksandr Valeryevich
Zharinov Konstantin Anatolyevich
Zubkov Vladimir Aleksandrovich
Dimock Stratton Llp
Shamrai Aleksandr Valeryevich
Zharinov Konstantin Anatolyevich
Zubkov Vladimir Aleksandrovich
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