G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 1/28 (2006.01)
Patent
CA 2736056
The invention is a method of estimating thickness of a geological layer (L), the method comprising the steps of: (a) selecting seismic reflection field data from a subsurface depth interval of interest; (b) providing a plurality of geological models having different layer thicknesses and providing respective model responses from the plurality of geological models; (c) comparing a frequency spectrum of the seismic reflection field data with each of the frequency spectra of the model responses to derive comparison data associated with the different layer thicknesses of the models; and (d) deriving from the comparison data a model layer thickness that is indicative of the thickness of the geological layer.
L'invention concerne un procédé destimation de lépaisseur dune couche géologique (L), le procédé comportant les étapes consistant à : (a) sélectionner des données de terrain sur la réflexion sismique provenant dun intervalle dintérêt de la profondeur du sous-sol ; (b) mettre en uvre une pluralité de modèles géologiques caractérisés par des épaisseurs de couches différentes et obtenir des réponses respectives de modèles issues de la pluralité de modèles géologiques ; (c) comparer un spectre de fréquence des données de terrain sur la réflexion sismique à chacun des spectres de fréquence des réponses de modèles pour en tirer des données de comparaison associées aux différentes épaisseurs de couches des modèles ; et (d) tirer des données de comparaison une épaisseur de couche de modélisation, indicative de lépaisseur de la couche géologique.
Marks & Clerk
Statoil Petroleum As
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1849352