Method for semiconductor manufacturing

H - Electricity – 01 – L

Patent

Rate now

  [ 0.00 ] – not rated yet Voters 0   Comments 0

Details

H01L 21/77 (2006.01) H01L 21/8222 (2006.01) H01L 21/8249 (2006.01)

Patent

CA 2349559

The present invention relates to a method for semiconductor manufacturing of one semiconductor circuit, having a multiple of active devices NMOS1, NMOS2, NPN1, NPN2 of one type. The method comprises the steps of arranging a first region (4, 16) on a semiconductor substrate (1), and implementing two active devices of said type, having different sets of characteristics, in said first region (4, 16). The step of implementing said active devices comprises a step of creating a first (6', 10') and a second (6'', 10'') subregion within said first region (4, 16), and said step further comprising a step of introducing a first P1, P3 and a second P2, P4 dopant having different sets of dose parameters, into a first and a second area, respectively, of said first region, said dopants being of a similar type p, and a step of annealing said substrate (1) to create said first (6', 10') and second (6'', 10'') subregion, respectively, whereby two subregions, having different doping profiles, can be fabricated on a single integrated circuit.

L'invention concerne un procédé servant à la fabrication de semi-conducteurs d'un circuit à semi-conducteur ayant plusieurs dispositifs actifs NMOS1, NMOS2, NPN1, NPN2 d'un type donné. Le procédé consiste à agencer une première région (4, 16) sur un substrat à semi-conducteur (1) et à mettre en oeuvre deux dispositifs actifs dudit type, ayant des ensembles de caractéristiques différents, dans ladite première région (4, 16). L'étape de la mise en oeuvre desdits dispositifs actifs consiste à créer une première (6', 10') puis une seconde (6'', 10'') sous régions à l'intérieur de ladite première région (4, 16), ladite étape consistant en outre à introduire un premier (P¿1?, P¿3?) puis un second (P¿2?, P¿4?) dopants ayant des ensembles différents de paramètres de dosage, dans une première et une seconde zones, respectivement, de ladite première région, les dopants étant d'un type p similaire, et à recuire ledit substrat (1) afin de créer lesdites première (6', 10') et seconde (6'', 10'') sous régions, respectivement. Les deux sous régions, dont les profils dopants sont différents, peuvent être fabriquées sur un seul circuit intégré.

LandOfFree

Say what you really think

Search LandOfFree.com for Canadian inventors and patents. Rate them and share your experience with other people.

Rating

Method for semiconductor manufacturing does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with Method for semiconductor manufacturing, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Method for semiconductor manufacturing will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

     

Profile ID: LFCA-PAI-O-2001191

  Search
All data on this website is collected from public sources. Our data reflects the most accurate information available at the time of publication.