H - Electricity – 04 – L
Patent
H - Electricity
04
L
H04L 1/20 (2006.01) H04L 1/24 (2006.01)
Patent
CA 2505153
A method for testing the error ratio BER of a device under test against a specified allowable error ratio comprises the steps: measuring ns samples of the output of the device, thereby detecting ne erroneous samples of these ns samples, defining BER(ne)=ne/ns as the preliminary error ratio and deciding to pass the device, if the preliminary error ratio BER(ne) is smaller than an early pass limit EPL (ne). The early pass limit is constructed by using an empirically or analytically derived distribution for a specific number of devices each having the specified allowable error ratio by separating a specific portion DD of the best devices from the distribution for a specific number of erroneous samples ne and proceeding further with the remaining part of the distribution for an incremented number of erroneous samples.
L'invention concerne un procédé pour tester le taux d'erreur TEB d'un dispositif mis à l'essai par rapport à un taux d'erreur tolérable spécifié. Le procédé consiste à: mesurer ns échantillons du produit du dispositif en vue de détecter ne échantillons erronés desdits ns échantillons; définir TEB(ne)=ne/ns comme étant le taux d'erreur préliminaire, et décider de passer le dispositif si le taux d'erreur préliminaire TEB(ne) est inférieur à une limite de passage antérieur EPL (ne). La limite de passage antérieur est construite grâce à l'utilisation d'une distribution dérivée empirique ou analytique pour un nombre spécifique de dispositifs présentant chacun le taux d'erreur tolérable spécifié, la séparation d'une partie spécifique DD des meilleurs dispositifs de la distribution pour un nombre spécifique d'échantillons erronnés ne, et la poursuite de l'opération avec la partie restante de la distribution pour un nombre incrémenté d'échantillons erronnés.
Ridout & Maybee Llp
Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1596530