G - Physics – 01 – D
Patent
G - Physics
01
D
G01D 18/00 (2006.01)
Patent
CA 2612447
A method of evaluating uncertainty associated with the value of a measurand derived from measurements of a device under test comprising providing a mathematical model wherein the measurand is expressed as a function of (i) at least one physically observable quantity, and (ii) the reference value of said physically observable quantity in a reference device; measuring the reference value of the reference device and the value of the measurand of the device under test; measuring the value of said at least one physically observable quantity; and determining at least one uncertainty value as a function of said physically observable quantity from said mathematical model, wherein the mathematical model takes into account the at least one source of uncertainty and the reference value of the reference device.
L'invention porte sur un procédé qui permet d'évaluer l'incertitude associée à la valeur d'un mesurande dérivé des mesures d'un dispositif à l'essai, lequel procédé consiste: à fournir un modèle mathématique dans lequel le mesurande est exprimé comme une fonction (i) d'au moins une quantité physiquement observable, et (ii) de la valeur de référence de ladite quantité physiquement observable dans un dispositif de référence; à mesurer la valeur de référence du dispositif de référence et la valeur du mesurande du dispositif à l'essai; et à déterminer au moins une valeur d'incertitude comme une fonction de ladite quantité physiquement observable à partir dudit modèle mathématique, le modèle mathématique tenant compte de la source d'incertitude précitée et de la valeur de référence du dispositif de référence.
Endo Tadashi
Yoshihiro Kazuo
Calibration & Testing International Pte. Ltd.
Endo Tadashi
Oyen Wiggs Green & Mutala Llp
Yoshihiro Kazuo
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1647845