G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/35 (2006.01) A61B 5/00 (2006.01) G01N 21/27 (2006.01) G01N 21/31 (2006.01) G01N 37/00 (2006.01)
Patent
CA 2382113
The present invention provides a method of calibrating a spectroscopic device for providing a non-invasive measurement of an analyte level in a sample. The method comprises the steps of: (a) providing a plurality of calibration algorithms; (b) taking a set of non-invasive measurements on said sample with said spectroscopic device; (c) calculating a predicted set of analyte levels for each of the calibration algorithms in response to the set of non-invasive measurements, each of the predicted sets of analyte levels being characterized by a variability range, a slope, an R2 (a square of the correlation between said set of non-invasive measurements and said predicted set of analyte levels), and a standard error of prediction; and (d) selecting an appropriate calibration algorithm by using a suitability score based on the variability range, the slope, the R2 and the standard error of prediction for each of the predicted sets of analyte levels. A method of generating suitable calibration algorithms in step (a) is also provided.
L'invention concerne un procédé permettant d'étalonner un dispositif spectroscopique conçu pour mesurer de manière non invasive un niveau d'analyte dans un échantillon. Le procédé consiste à: (a) fournir une pluralité d'algorithmes d'étalonnage; (b) effectuer une série de mesures non invasives sur ledit échantillon à l'aide du dispositif spectroscopique; (c) calculer un ensemble de niveaux d'analytes prévu pour chaque algorithme d'étalonnage en réponse à la série de mesures non invasives, chaque ensemble de niveaux d'analytes prévu étant caractérisé par une fourchette de variabilité, une pente, un R?2¿ (carré de la corrélation entre ladite série de mesures non invasives et l'ensemble prévu de niveaux d'analytes) et une erreur-type de prédiction; et (d) sélectionner un algorithme d'étalonnage approprié en utilisant un indice d'appropriation fondé sur la fourchette de variabilité, la pente, R?2¿ et l'erreur-type de prédiction pour chaque ensemble prévu de niveaux d'analytes. L'invention concerne également un procédé d'élaboration d'algorithmes d'étalonnage en (a).
Cme Telemetrix Inc.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Niresults Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1425108