H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/10 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01)
Patent
CA 2711781
In accordance with an aspect of an embodiment of the present invention, there is provided a method for fragment-ing ions in an ion trap of a mass spectrometer. The method comprises a) selecting parent ions for fragmentation; b) retaining the parent ions within the ion trap for a retention time interval, the ion trap having an operating pressure of less than about 1 x 10-4 Torr; c) providing a RF trapping voltage to the ion trap to provide a Mathieu stability parameter q at an excitement level during an excitement time interval within the retention time interval; d) providing a resonant excitation voltage to the ion trap during the ex-citement time interval to excite and fragment the parent ions; and, e) within the retention time interval and after the excitement time interval, terminating the resonant excitation voltage and changing the RF trapping voltage applied to the ion trap to reduce the Mathieu stability parameter q to a hold level less than the excitement level to retain fragments of the parent ions within the ion trap.
Selon un aspect d'un mode de réalisation de l'invention, celle-ci concerne un procédé de fragmentation d'ions dans un piège à ions de spectromètre de masse. Ce procédé consiste à: (a) sélectionner des ions parents pour la fragmentation; (b) retenir les ions parents à l'intérieur du piège à ions pendant un intervalle temporel de retenue, le piège à ions possédant une pression opérationnelle inférieure à 1 x 10-4 Torr environ; (c) appliquer une tension de piégeage HF au piège à ions afin de produire un paramètre de stabilité de Mathieu q à un niveau d'excitation pendant un intervalle temporel d'excitation à l'intérieur de l'intervalle temporel de retenue; (d) appliquer une tension d'excitation résonnante au piège à ions pendant l'intervalle temporel d'excitation afin d'exciter et de fragmenter les ions parents; (e) dans l'intervalle temporel de retenue et après l'intervalle temporel d'excitation, terminer la tension d'excitation résonnante et modifier la tension de piégeage HF appliquée au piège à ions afin de limiter le paramètre de stabilité de Mathieu q à un niveau de maintien inférieur au niveau d'excitation, de manière à retenir des fragments des ions parents à l'intérieur du piège à ions.
Guna Mircea
Le Blanc Yves
Bereskin & Parr Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
Dh Technologies Development Pte. Ltd.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1524961