Method of optimizing wavelength calibration

Details Method of optimizing wavelength calibration Method of optimizing wavelength calibration

G - Physics

01

J

G01J 3/28 (2006.01)

Patent

CA 2386184

The present invention provides a method of calibrating the wavelength of a target instrument, based on a calibration model developed for a primary instrument. The method comprises: (a) obtaining a reference set of at least two wavelength calibration parameters for the primary instrument; (b) obtaining a target set of at least two corresponding wavelength calibration parameters for the target instrument; (c) measuring a reference spectral response of a sample with the primary instrument; (d) measuring a target spectral response of the sample with the target instrument; (e) iteratively adjusting the target set of wavelength calibration parameters; (f) for each target set of wavelength calibration parameters, determining spectral residuals corresponding to that target set; and (g) selecting an optimum set of wavelength calibration parameters based on the spectral residuals for each target set of wavelength calibration parameters.

L'invention concerne un procédé d'étalonnage de la longueur d'onde d'un instrument cible, fondé sur un modèle d'étalonnage mis au point pour un instrument primaire. Le procédé consiste à: a) obtenir un ensemble de référence d'au moins deux paramètres d'étalonnage de longueur d'onde pour un instrument primaire; b) obtenir un ensemble cible d'au moins deux paramètres d'étalonnage de longueur d'onde correspondants pour l'instrument cible; c) mesurer une réponse spectrale de référence d'un échantillon avec l'instrument primaire; d) mesurer une réponse spectrale cible de l'échantillon avec l'instrument cible; e) ajuster de façon itérative l'ensemble cible des paramètres d'étalonnage de longueur d'onde; f) pour chaque ensemble cible de paramètres d'étalonnage de longueur d'onde, déterminer des résidus spectraux correspondant à cet ensemble cible; et g) se fonder sur les résidus spectraux pour choisir un ensemble optimal de paramètres d'étalonnage de longueur d'onde pour chaque ensemble cible de paramètres d'étalonnage de longueur d'onde.

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Profile ID: LFCA-PAI-O-1470693