Method of using snr to reduce factory test time

Details Method of using snr to reduce factory test time Method of using snr to reduce factory test time

H - Electricity

04

W

H04W 24/00 (2009.01) H04W 24/06 (2009.01)

Patent

CA 2534245

The application relates to wireless networks and more particularly to a method of reducing factory test time of receiver sensitivity in a Code Division Multiple Access (CDMA) wireless device. Under TIA/EIA/-98E, the radio frequency (RF) sensitivity of a CDMA wireless receiver is the minimum received power, measured at the mobile station antenna connector, at which the frame error rate (FER) does not exceed 0.5% with 95% confidence. In order to reduce the test time of FER test method, the relation between correlated energy (or Ec/Io) and FER is determined using simulated traffic and the correlated energy (or Ec/Io) measurement is then used as the test parameter on like models to achieve the same or superior test confidence with significantly reduced test time.

La demande concerne des réseaux sans fil et, en particulier, une méthode pour réduire le temps d'essai en usine de la sensibilité de récepteur dans un dispositif sans fil à accès multiple par répartition en code (AMRC). En vertu de la spécification TIA/EIA/-98E, la sensibilité de fréquence radioélectrique d'un récepteur sans fil AMRC est la puissance minimale reçue, mesurée au connecteur d'antenne de la station mobile, où le taux d'erreurs de trame ne dépasse pas 0,5 % avec 95 % de certitude. Afin de réduire le temps d'essai de la méthode d'essai à taux d'erreurs de trame, la relation entre l'énergie de corrélation (ou Ec/Io) et le taux d'erreurs de trame est déterminée en utilisant un trafic simulé et la mesure de l'énergie de corrélation (ou Ec/Io) est ensuite utilisée comme le paramètre d'essai sur des modèles semblables pour obtenir la même certitude d'essai ou une certitude d'essai supérieure avec un temps d'essai sensiblement réduit.

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