G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 9/00 (2006.01) G01N 5/00 (2006.01) G01N 17/04 (2006.01)
Patent
CA 2715295
Solids deposition in a gas environment, such as a gas transmis-sion line or pipeline are measured using metal-coated quartz crystal microbal-ance (QCM) in a QCM probe within a high pressure gas chamber in the gas en-vironment. The metal coated on the QCM may be iron, iron alloys and/or iron oxide. The weight measurements are conducted at a constant (.DELTA.T) or controlled (T = f(t)) temperature between the high pressure gas chamber and the QCM probe. The weight gain during a CE cycle is associated with the solids formation rate.
L'invention concerne le dépôt de matières solides dans un environnement gazeux, tel qu'une ligne de transmission de gaz ou un gazoduc, mesuré à l'aide d'une microbalance à cristal de quartz (QCM) à revêtement métallique dans une sonde QCM dans une chambre à gaz à haute pression de l'environnement gazeux. Le revêtemennt métallique de la QCM peut être fait de fer, d'alliages de fer et/ou d'oxyde de fer. Les mesures de poids sont exécutées à une température constante (?T) ou contrôlée (T = f(t)) entre la chambre à gaz à haute pression et la sonde QCM. Le gain de poids au cours d'un cycle CE est associé au taux de formation de matières solides.
Hammonds Paul
Jovancicevic Vladimir
Ramachandran Sunder
Baker Hughes Incorporated
Sim & Mcburney
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1374681