Methods for utilizing dielectrometry signals using...

G - Physics – 01 – R

Patent

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G01R 27/16 (2006.01) G01N 27/26 (2006.01) G01R 27/26 (2006.01)

Patent

CA 2331644

A method is disclosed for processing, optimization, calibration, and display of measured dielectrometry signals. A property estimator is coupled by way of instrumentation to an electrode structure and translates sensed electromagnetic responses into estimates of one or more preselected properties or dimensions of the material, such as dialectric permittivity and ohmic conductivity, layer thickness, or other physical properties that effect dielectric properties, or presence of other lossy dielectric or metallic objects. A dielectrometry sensor is disclosed which can be connected in various ways to have different effective penetration depths of electric fields but with all configurations having the same air-gap, fluid gap, or shim lift- off height, thereby greatly improving the performance of the property estimators by decreasing the number of unknowns. The sensor geometry consist of a periodic structure with, at any one time, a single sensing element that provides for multiple wavelength within the same sensor footprint.

L'invention concerne un procédé permettant de traiter, d'optimiser, de calibrer et d'afficher des signaux diélectrométriques mesurés. Un dispositif d'estimation de propriétés est couplé à l'aide d'instruments à une structure d'électrode, et convertit les réponses électromagnétiques captées sous forme d'estimations d'une ou plusieurs propriétés présélectionnées ou de dimensions du matériau, telle que la permittivité diélectrique et la conductivité ohmique, l'épaisseur de couche ou d'autres propriétés physiques qui affectent les propriétés diélectriques, ou la présence d'autres objets métalliques ou diélectriques à pertes. L'invention concerne également un capteur diélectrométrique pouvant être connecté de différentes manières, de façon à obtenir différentes profondeurs de pénétration des champs diélectriques efficaces, toutes les configurations ayant les mêmes entrefer, espace fluidique et hauteur de séparation d'épaisseur, ce qui améliore grandement la performance des dispositifs d'estimation de propriétés, en réduisant le nombre d'inconnues. La géométrie du capteur consiste en une structure dotée d'un élément de captage unique, qui produit plusieurs longueurs d'onde dans le même encombrement de capteur.

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