H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/00 (2006.01) H01J 49/42 (2006.01)
Patent
CA 2736122
A method for calibrating an ion trap mass spectrometer is disclosed. The method includes steps of identifying a phase (defined by the RF trapping and resonant ejection voltages) that optimizes peak characteristics, and then determining, for each of a plurality of calibrant ions, an optimal resonant ejection voltage amplitude when the ion trap is operated at the identified phase. The resonant ejection voltage applied to the electrodes of the ion trap may then be controlled during analytical scans in accordance with the established relationship between m/z and resonant ejection voltage amplitude.
La présente invention porte sur un procédé d'étalonnage d'un spectromètre de masse de type piège à ions. Le procédé comprend les étapes d'identification d'une phase (définie par le piégeage RF et les tensions d'éjection résonnantes) qui optimisent des caractéristiques de pic, puis la détermination, pour chacun d'une pluralité d'ions détalonnage, d'une amplitude de tension d'éjection résonnante optimale lorsque le piège à ions est actionné à la phase identifiée. La tension d'éjection résonnante appliquée aux électrodes du piège à ions peut ensuite être commandée durant des balayages analytiques conformément à la relation établie entre m/z et une amplitude de tension d'éjection résonnante.
Remes Philip M.
Schwartz Jae C.
Freedman & Associates
Thermo Finnigan Llc
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1868041