G - Physics – 02 – B
Patent
G - Physics
02
B
G02B 21/34 (2006.01) G01N 1/28 (2006.01)
Patent
CA 2259171
A slide (1) or observing material (4) under a microscope comprising a mounting surface (15) to receive material (4) for observation and a removable layer (2) on the mounting surface (4) formed with at least one opening (3) in the removable layer (5) to define at least one exposed region (6) on the mounting surface (15) for retaining material to be observed when the removable layer (12) is detached. The exposed region has definite boundaries and any material to be examined remaining on the slide is confined to be exposed region to facilitate examination of the slide by human visual identification or machine vision by making material easier to locate, by limiting material to regions appropriate for best observation (e.g. away from edges of the slide and coverglass), and by limiting the amount of material or area covered by material to permit quick and rigorous observation and analysis. A method for using slides according to the present invention is also disclosed.
Cette invention concerne une plaquette (1) permettant d'observer une matière (4) au microscope, laquelle plaquette comprend une surface de montage (15) sur laquelle est placée la matière (4) à observer. Cette plaquette comprend également une couche amovible (2) qui est disposée sur la surface de montage (4). Une ou plusieurs ouvertures (3) pratiquées dans la couche amovible (5) définissent une ou plusieurs zones exposées (6) sur la surface de montage (15). Ces zones permettent de maintenir la matière à observer lorsque la couche amovible (12) est détachée. Chaque zone exposée possède des limites déterminées, et toute matière à examiner qui reste sur la plaquette est confinée dans ladite zone exposée. Ce système permet de faciliter l'examen de ladite plaquette en vue d'une identification par vision humaine ou artificielle. Ce système permet également de faciliter la localisation de la matière, de confiner cette dernière dans les zones assurant la meilleure observation possible (à l'écart des bords de la plaquette et du verre de couverture), et de limiter la quantité de matière, ou la zone couverte par celle-ci, afin d'assurer une observation et une analyse rapides et rigoureuses. Cette invention concerne également un procédé d'utilisation de ces plaquettes.
Fetherstonhaugh & Co.
Invantek Technologies Corp.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1484495