Multi-beam ion mobility time-of-flight mass spectrometer...

Details Multi-beam ion mobility time-of-flight mass spectrometer... Multi-beam ion mobility time-of-flight mass spectrometer...

H - Electricity

01

J

H01J 49/26 (2006.01) G01N 27/62 (2006.01) H01J 49/00 (2006.01) H01J 49/40 (2006.01)

Patent

CA 2609802

The present invention relates generally to instrumentation and methodology for the characterization of chemical samples in solutions or on a surface which is based on modified ionization methods with or without adjustable pH and controllable H-D exchange in solution, an improved ion mobility spectrometer (IMS), a multi-beam ion pre-selection of the initial flow, and coordinated mobility and mass ion separation and detection using a single or several independent time-of-flight mass spectrometers for different beams with methods for fragmenting ion mobility-separated ions and multi-channel data recording.

L'invention concerne, d'une manière générale, des instruments et une méthodologie destinés à la caractérisation d'échantillons chimiques en solutions ou sur une surface et fondés sur des procédés d'ionisation modifiés avec ou sous pH ajustables et échange H-D commandable en solution, un spectromètre à mobilité ionique amélioré (IMS), une présélection ionique multifaisceau du flux initial et des séparation et détection de mobilité et de ions positifs coordonnées, au moyen d'un ou de plusieurs spectromètres de masse à temps de vol indépendants pour des faisceaux distincts avec des procédés de fragmentation de ions séparés par mobilité et un enregistrement de données multicanal.

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