Multiple ion injection in mass spectrometry

Details Multiple ion injection in mass spectrometry Multiple ion injection in mass spectrometry

H - Electricity

01

J

H01J 49/42 (2006.01)

Patent

CA 2610051

This invention relates to mass spectrometry that includes ion trapping in at least one of the stages of mass analysis. In particular, although not exclusively, this invention relates to tandem mass spectrometry where precursor ions and fragment ions are analysed. A method of mass spectrometry is provided comprising the sequential steps of: accumulating in an ion store a sample of one type of ions to be analysed; accumulating in the ion store a sample of another type of ions to be analysed; and mass analysing the combined samples of the ions.; wherein the method comprises accumulating the sample of the one type of ions and/or the sample of another type of ions to achieve a target number of ions based on the results of a previous measurement of the respective type of ions.

L'invention concerne une spectrométrie de masse qui consiste à piéger des ions dans au moins l'un des étages d'une analyse de masse. L'invention concerne, notamment mais non exclusivement, une spectrométrie de masse en tandem dans laquelle des ions précurseurs et des ions fragmentaires sont analysés. Le procédé de spectrométrie de masse consiste: à accumuler dans un stockage d'ions un échantillon d'un type d'ions à analyser; à accumuler dans le stockage d'ions un échantillon d'un autre type d'ions à analyser; et à effectuer une analyse de masse des échantillons d'ions combinés. Le procédé consiste également à accumuler l'échantillon d'un type d'ions et/ou l'échantillon de l'autre type d'ions afin d'obtenir un nombre d'ions cibles en fonction des résultats d'une mesure antérieure des types d'ions respectifs.

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