Mutivariate sample analysis

G - Physics – 06 – F

Patent

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G06F 17/18 (2006.01) G01N 21/27 (2006.01) G01N 37/00 (2006.01) G06F 19/00 (2006.01)

Patent

CA 2243677

In a process for analyzing a sample of unknown constitution by an analytical apparatus, a set of analytical measurements and a set of reference measurements, each comprising a set of multivariate signal responses obtained from a set of samples by a first and a second analytical apparatus, are adjusted to remove operational variabilities associated with the apparatus, thereby providing a first and a second matrix of adjusted signal responses. One of the two matrices of adjusted signal responses is decomposed into a matrix product of a matrix comprising a set of principal factors and a matrix comprising the amounts associated with each of the principal factors. A compressed signal response matrix product is constructed that comprises a matrix comprising a subset of the set of principal factors and a matrix comprising the amounts associated with each of the principal factors included in the subset. From the latter matrix a projection matrix is computed. Using this projection matrix and a first normalized matrix product that comprises a normalization matrix and the other of the two matrices of adjusted signal responses, a compressed normalized matrix product is constructed. Values of the normalization matrix that minimize the difference between the first normalized matrix product and the compressed normalized matrix product are computed, thereby producing an optimal normalization matrix. A second normalized matrix product comprising the optimal normalization matrix and the one matrix of adjusted signal responses that had been decomposed into a matrix product is constructed. Using the other matrix of adjusted signal responses and the second normalized matrix product, a calibration useful for analyzing the signal responses obtained from the sample of unknown constitution by the first analytical apparatus is constructed and applied to the signal responses from the sample to determine its constitution.

La présente invention concerne un procédé d'analyse d'un échantillon de constitution inconnue par un appareil d'analyse. Ce procédé, qui consiste à prendre un ensemble de mesures d'analyse et un ensemble de mesures de référence, constitués chacun d'un ensemble de réponses sous forme de signaux multivariables obtenus par des premier et second appareils d'analyse à partir d'un jeu d'échantillon, et à les ajuster pour en éliminer les variabilités opérationnelles liées à l'appareil, produit des première et seconde matrices de réponses de signaux ajustées. Le procédé consiste ensuite à décomposer l'une des deux matrices de réponses de signaux ajustées en un produit matriciel entre une matrice comprenant un ensemble de facteurs principaux et une matrice comprenant les quantités affectées à chacun des facteurs principaux. On passe alors à la construction d'un produit matriciel comprimé de réponses de signaux à partir d'une matrice comprenant un sous-ensemble de l'ensemble de facteurs principaux et d'une matrice comprenant les quantités affectées à chacun des facteurs principaux inclus dans le sous-ensemble, cette dernière matrice servant alors à calculer une matrice de projections. On construit alors un produit matriciel normalisé comprimé à partir de cette matrice de projections et d'un premier produit matriciel normalisé qui comprend une matrice de normalisation et l'autre des deux matrices de réponses de signaux ajustées. On calcule les valeurs de la matrice de normalisation qui réduisent à un minimum la différence entre le premier produit matriciel normalisé et le produit matriciel normalisé comprimé, ce qui donne une matrice de normalisation optimale. On construit ensuite un second produit matriciel normalisé comprenant la matrice de normalisation optimale et la matrice de réponses de signaux ajustées qui avait été décomposée en un produit matriciel. En utilisant l'autre matrice de réponses de signaux ajustées et le second produit matriciel normalisé, on construit ensuite un gabarit convenant à l'analyse des réponses de signaux provenant de l'échantillon de constitution inconnue par le premier appareil d'analyse, l'application de ce gabarit aux réponses de signaux issues de l'échantillon permettant alors d'en déterminer la constitution.

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