G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 15/06 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01)
Patent
CA 2373253
X-ray or .gamma.ray-radiation (22) is utilized during non-destructive examination of a sample (TS), to detect hidden flaws in a test sample (TS) by generating a number referred to as a single figure-of-merit. The figure-of- merit is obtained by comparing the set of responses obtained from radiation emanating from a standard sample with a set of responses obtained from radiation emanating from a test sample (TS). The resulting figure-of-merit is then compared with a reference value as an indicator of the presence of a flaw.
La présente invention concerne un procédé dans lequel un rayonnement de rayons X ou de rayons .gamma. (22) est mis en oeuvre lors du contrôle non destructif d'un échantillon (TS), pour la détection de défauts cachés dans un échantillon pour essai (TS) par la génération d'un nombre dit facteur de qualité unique. Le facteur de qualité est obtenu par la comparaison d'un ensemble de réactions obtenues du rayonnement provenant d'un échantillon étalon avec un ensemble de réactions obtenues du rayonnement provenant de l'échantillon pour essai (TS). On compare alors le facteur de qualité ainsi obtenu à une valeur de référence en tant qu'indicateur de la présence d'un défaut.
Riches Mckenzie & Herbert Llp
Scannex Technologies Llc
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1377675