G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 22/02 (2006.01)
Patent
CA 2304782
An apparatus and method for the nondestructive inspection of dielectric matierals are disclosed. Monochromatic, phase coherent electromagnetic radiation (6), preferably in the 5-50 gigahertz frequency range (i.e. microwaves) impinges on the sample. In accordance with Snell's law, the microwaves are partly transmitted and partly reflected at each interface where the dielectric constant changes due to irregularities. A portion of the reflected beam is combined with the signal reflected by the specimen being inspected. These two signals have the same frequency, but may differ in amplitude and phase. The signals combine to produce an interference pattern, a pattern that changes as the specimen changes, or as the position of the specimen changes relative to a detector (2, 4). A computer (10) is programmed to distinguish features in the interference pattern attributable to irregularities in the material from features in the interference pattern attributable to sources of noise.
On décrit un appareil et un procédé permettant d'effectuer l'inspection non destructive de matériaux diélectriques. Dans l'appareil un rayonnement (6) électromagnétique monochromatique à phase cohérente se situant de préférence dans la plage de fréquence comprise entre 5 et 50 gigahertz (par exemple des ondes ultracourtes) vient heurter l'échantillon. Conformément à la loi de Snell, les ondes ultracourtes sont partiellement envoyées et partiellement renvoyées à chaque interface où la constante diélectrique varie en raison des irrégularités. Une partie du faisceau réfléchi est combinée au signal réfléchi par l'objet inspecté. Ces deux signaux ont la même fréquence mais leur amplitude et leur phase peuvent différer. Les signaux se combinent pour produire un diagramme d'interférence, ce diagramme changeant lorsque l'objet change ou lorsque la position de l'objet varie par rapport à un détecteur (2, 4). Un ordinateur (10) est programmé pour faire la distinction ente des caractéristiques du diagramme d'interférence qui peuvent être attribuées aux irrégularités du matériau et des caractéristiques du diagramme d'interférence qui peuvent être attribuées aux sources de bruit.
Little Jack R. Jr.
Macrae & Co.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1593656