Offset probe

Details Offset probe Offset probe

G - Physics

01

N

G01N 21/85 (2006.01) G01N 21/47 (2006.01)

Patent

CA 2711516

An offset probe (10) having an elongate illuminating channel (12) and an elongate collecting channel (14) laterally displaced from the illuminating channel (12) at the distal end (24) of the probe (10). A reflective element (26) is disposed between the channels (12,14) and arranged to reflect incident optical radiation in a direction away from the distal end (24). A transparent window (28) at the distal end (24) may be employed to provide, in use, a volume free from sample material through which radiation may pass to and from the reflective element (26).

L'invention porte sur une sonde à décalage (10) comportant un canal d'éclairage allongé (12) et un canal de collecte allongé (14) décalé latéralement par rapport au canal d'éclairage (12) à l'extrémité distale (24) de la sonde (10). Un élément réfléchissant (26) est disposé entre les canaux (12, 14), et agencé de façon à réfléchir un rayonnement optique incident dans une direction opposée à l'extrémité distale (24). Une fenêtre transparente (28) à l'extrémité distale (24) peut être utilisée pour produire, lors de l'utilisation, un volume exempt de matériau échantillon à travers lequel un rayonnement peut passer vers et depuis l'élément réfléchissant (26).

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