On-chip polarimetry for high-throughput screening of...

G - Physics – 01 – N

Patent

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G01N 15/06 (2006.01) B01L 9/00 (2006.01) B32B 5/02 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01) G01J 4/00 (2006.01) G01N 21/00 (2006.01)

Patent

CA 2584824

A polarimetry technique for measuring optical activity that is particularly suited for high throughput screening employs a chip or substrate (22) having one or more microfluidic channels (26) formed therein. A polarized laser beam (14) is directed onto optically active samples that are disposed in the channels. The incident laser beam interacts with the optically active molecules in the sample, which slightly alter the polarization of the laser beam as it passes multiple times through the sample. Interference fringe patterns (28) are generated by the interaction of the laser beam with the sample and the channel walls. A photodetector (34) is positioned to receive the interference fringe patterns and generate an output signal that is input to a computer or other analyzer (38) for analyzing the signal and determining the rotation of plane polarized light by optically active material in the channel from polarization rotation calculations.

Une technique de polarimétrie utilisée pour mesurer l'activité optique particulièrement appropriée pour le criblage à grande capacité utilise une puce ou un substrat (22) dans lequel est/sont formés un ou plusieurs canaux microfluidiques (26). Un faisceau laser polarisé (14) est dirigé sur les échantillons optiquement actifs situés dans les canaux. Le faisceau laser incident (14) interagit avec les molécules optiquement actives de l'échantillon, qui altèrent légèrement la polarisation du faisceau laser lorsqu'il traverse plusieurs fois ledit échantillon. Des motifs de frange d'interférence (28) sont générés par l'interaction du faisceau laser avec l'échantillon et les parois des canaux. Un photodétecteur (34) est placé de manière à recevoir les motifs de frange d'interférence et générer un signal de sortie qui est envoyé à un ordinateur ou à un analyseur (38) pour qu'il analyse le signal et détermine la rotation de la lumière polarisée dans le plan par la matière optiquement active présente dans le canal à l'issue de calculs de rotation de polarisation.

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