G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 15/02 (2006.01) G01N 21/53 (2006.01) G01N 33/18 (2006.01)
Patent
CA 2646052
A measurement system that has multiple sensors or multiple light sources (10) is disclosed. The measurement system comprising a light source (10) directed along a first axis and configured to illuminate a sample volume (8). The measurement system has a first sensor (5) aligned along a second axis and is configured to detect scattered light in the sample volume (8). The measurement system has a second sensor (5A) aligned along a third axis and is also configured to detect scattered light in the sample volume (8).
La présente invention concerne un système de mesure qui comporte de multiples capteurs ou de multiples sources lumineuses (10). Elle concerne un système de mesure comprenant une source lumineuse (10) dirigée le long d'un premier axe et configuré pour éclairer un volume d'échantillon (8). Le système de mesure comprend un premier capteur (5) aligné le long d'un deuxième axe et est configuré pour détecter une lumière diffuse dans le volume d'échantillon (8). Le système de mesure comprend un deuxième capteur (5A) aligné le long d'un troisième axe et est aussi configuré pour détecter une lumière diffuse dans le volume d'échantillon (8).
Borden Ladner Gervais Llp
Hach Company
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1798220