G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 11/25 (2006.01) G01B 21/20 (2006.01)
Patent
CA 2627357
Disclosed is a method for optically measuring a surface which has especially a spherical shape featuring a great amount of radiation reflection and is illuminated by at least one radiation source and by means of at least one structured light source in order to create an illumination structure on the surface that is to be measured. The illumination structure is recorded using a camera. A coating is applied to the surface before the surface is measured so as to reduce radiation reflection, said coating of the spherical surface being applied using the principle of electrostatic coating. Hence, a method for optically measuring a surface is created in which the coating is applied evenly to the entire surface of the test object while the coating has a thickness of less than 0.01 mm.
L'invention concerne un procédé de mesure optique d'une surface présentant, en particulier, une forme sphérique à haute réflexion de rayonnement, laquelle surface est éclairée à l'aide d'au moins une source de rayonnement ainsi qu'à l'aide d'au moins une source de lumière structurée afin d'engendrer une structure d'éclairage sur la surface à mesurer, cette structure d'éclairage étant acquise au moyen d'une caméra et un revêtement étant appliqué sur la surface avant la mesure de cette dernière afin de réduire la réflexion du rayonnement. Selon ladite invention, le revêtement de la surface sphérique est appliqué par enduction électrostatique. On obtient ainsi un procédé de mesure optique d'une surface, selon lequel le revêtement est appliqué de façon régulière sur toute la surface de l'objet à mesurer et présente une épaisseur inférieure à 0,01 mm.
Grosskurth Benjamin
Satzger Wilhelm
Marks & Clerk
Mtu Aero Engines Gmbh
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1625138