G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/01 (2006.01) G01N 21/25 (2006.01) G01N 21/85 (2006.01) G01N 33/10 (2006.01)
Patent
CA 2402230
The present invention relates to spectral analysis systems and methods for determining physical and chemical properties of a sample by measuring the optical characteristics of light emitted from the sample. In one embodiment, a probe head for use with a spectrometer includes a reflector for illuminating a sample volume disposed circumferentially about the light source of the probe head. In another embodiment, a probe head includes an optical blocking element for forcing the optical path between the light source and an optical pick-up optically connected to the spectrometer into the sample. The probe head also includes a reference shutter for selectively blocking light emitted from the sample from reaching the optical pick-up facilitate calibration of the spectrometer.
L'invention concerne des systèmes et des procédés d'analyse spectrale pour la détermination des propriétés physiques et chimiques d'un échantillon, par la mesure des caractéristiques optiques de la lumière émise par ledit échantillon. Dans un mode de réalsiation, une tête de sonde à utiliser avec un spectromètre, comporte un réflecteur conçu pour illuminer un volume d'échantillon placé sur la circonférence de la source lumineuse de la tête de sonde. Dans un autre mode de réalisation, une tête de sonde comprend un élément bloquant optique conçu pour diriger le trajet optique entre la source lumineuse et un capteur optique connecté au spectromètre dans l'échantillon. La tête de sonde comprend également un obturateur de référence conçu pour empêcher sélectivement la lumière émise par l'échantillon d'atteindre le capteur optique et pour faciliter ainsi l'étalonnage du spectromètre.
Gross Erich R.
Lee Anthony S.
Maczura Anthony K.
Mayes David M.
von Rosenberg Charles W.
Riches Mckenzie & Herbert Llp
Textron Systems Corporation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1661227