Ovd inspection method and inspection apparatus

G - Physics – 01 – B

Patent

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Details

G01B 11/00 (2006.01) G01B 11/24 (2006.01) G01B 11/28 (2006.01) G01N 21/892 (2006.01) G06T 1/00 (2006.01) G07D 7/12 (2006.01)

Patent

CA 2578857

An examination method and instrument for examining the defect of a provided OVD and the position where the OVD is provided without being influenced by a variation of the pattern of the OVD due to flapping or waving during transfer of a printed sheet. Image input means and illuminating means are disposed at positions where the light specularly reflected from the OVD and the light diffracted at the OVD are the threshold or less in binarization by image processing means, respectively. The surface of a base is illuminated with infrared rays or light containing infrared rays by the illuminating means. The image input means inputs image data including a wavelength region above 650 [nm] about an area including the OVD provided to the base. In a storage means, reference image data on the reference OVD alone or both the reference image data and data representing the reference position are previously stored and the inputted imaged data are further stored. Image processing means performs binarization, compares the image data with the reference image data, or compares the image data with the reference image data or the data representing the reference potion, and judges whether of not at least one of the shape, area and position of the OVD provided to the base on the basis of the results of the comparison is acceptable.

Procédé et instrument d'examen pour examiner le défaut d'un OVD mis à disposition et la position où l'OVD est disposé sans être influencé par une variation du modèle de l'OVD en raison d'un battement ou d'une ondulation pendant le transfert d'une feuille imprimée. Des moyens d'entrée d'image et des moyens d'éclairage sont disposés à des positions où la lumière réfléchie de façon spéculaire à partir de l'OVD et la lumière diffractée au niveau de l'OVD représentent le seuil ou moins dans la binarisation par des moyens de traitement d'image, respectivement. La surface d'une base est éclairée avec des rayons infrarouges ou une lumière contenant des rayons infrarouges par les moyens d'éclairage. Les moyens d'entrée d'image entrent des données d'image comprenant une région de longueurs d'onde au-dessus de 650 nm autour d'une zone comprenant l'OVD mis à disposition sur la base. Dans un moyen de stockage, des données d'image de référence sur l'OVD de référence seul ou à la fois les données d'image de référence et les données représentant la position de référence sont stockées précédemment et les données imagées entrées sont en outre stockées. Des moyens de traitement d'images effectuent une binarisation, comparent les données d'image avec les données d'image de référence, ou comparent les données d'image avec les données d'image de référence ou les données représentant la position de référence, et estiment si au moins une parmi la forme, la zone et la position de l'OVD mis à disposition sur la base d'après les résultats de la comparaison est acceptable ou non.

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