Parallel mass analysis

H - Electricity – 01 – J

Patent

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Details

H01J 49/00 (2006.01) H01J 49/42 (2006.01)

Patent

CA 2673828

A system and method of mass spectrometry is provided. Ions from an ion source are stored in a first ion storage device and in a second ion storage device. Ions are ejected from the first ion storage device to a first mass analysis device during a first ejection time period, for analysis during a first analysis time period. Ions are ejected from the second ion storage device to a second mass analysis device during a second ejection time period. The ion storage devices are connected in series such that an ion transport aperture of the first ion storage device is in communication with an ion transport aperture of the second ion storage device. The first analysis time period and the second ejection time period at least partly overlap.

L'invention propose un système et un procédé de spectrométrie de masse. Les ions provenant d'une source d'ions sont stockés dans un premier dispositif de stockage d'ions et dans un second dispositif de stockage d'ions. Des ions sont éjectés du premier dispositif de stockage d'ions vers un premier dispositif d'analyse de masse pendant une première période de temps d'éjection, en vue d'une analyse pendant une première période de temps d'analyse. Des ions sont éjectés du second dispositif de stockage d'ions vers un second dispositif d'analyse de masse pendant une seconde période de temps d'éjection. Les dispositifs de stockage d'ions sont reliés en série, de telle sorte qu'une ouverture de transport d'ions du premier dispositif de stockage d'ions est en communication avec une ouverture de transport d'ions du second dispositif de stockage d'ions. La première période de temps d'analyse et la seconde période de temps d'éjection se chevauchent au moins partiellement.

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