G - Physics – 06 – T
Patent
G - Physics
06
T
G06T 7/00 (2006.01) G06K 9/00 (2006.01) G06K 9/62 (2006.01) G06K 9/64 (2006.01)
Patent
CA 2427719
In order to learn correlation between an observation pattern as an input and a pattern whose output is estimated from the input, a first teaching vector consisting of an observation pattern and a second teaching vector consisting of an estimation object are input. The self-correlation information on the two teaching vectors, an average vector of the two teaching vectors, and information on mutual correlation between the first and the second teaching vector are calculated. By using these to calculate a probabilistic expectation based on Bayes theory of the estimation object with respect to the input pattern, it is possible to accurately estimate a desired parameter at a low calculation cost.
Afin d'étudier la corrélation entre un modèle d'observation sous forme d'entrée et un modèle d'estimation de sortie à partir de ladite entrée, on entre un premier vecteur d'apprentissage comprenant un objet d'observation et un second vecteur d'apprentissage comprenant un objet d'estimation. On calcule les informations d'autocorrération des deux vecteurs d'apprentissage, un vecteur moyen des deux vecteurs d'apprentissage, et des informations relatives à une corrélation entre les premier et second vecteurs d'apprentissage. Grâce à l'utilisation de ces données pour calculer une valeur probable, basée sur la théorie de Bayes, de l'estimation de l'objet par rapport au modèle d'entrée, il est possible d'estimer avec précision un paramètre désiré à un faible coût de calcul.
Hayata Keisuke
Nagao Kenji
Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.
Osler Hoskin & Harcourt Llp
LandOfFree
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