G - Physics – 01 – B
Patent
G - Physics
01
B
G01B 11/30 (2006.01) G01N 21/57 (2006.01)
Patent
CA 2628821
Device for continuously detecting surface characteristics of a sample surface at a tilt are disclosed. The exemplary system may have a conveying device for moving a sample surface (206, 406), a light source (202, 402) for reflecting a beam of light off the sample surface, and a light detector (208, 408) with a light detection surface for continuous light detection. A lens may receive the beam of light reflected from the sample surface and focus the beam of light on the light detection surface of the light detector. The area of the beam of light prior to the lens may be unequal to an area of a lens receiving surface. A reference analyzer may be used to determine the optical surface based on a comparison of the reflected light received with known reflected light values for known sample surfaces.
L'invention concerne un dispositif destiné à la détection continue de caractéristiques d'une surface d'échantillon lors d'une inclinaison. Le système donné à titre d'exemple peut comprendre un dispositif transporteur destiné à déplacer une surface d'échantillon (206, 406), une source de lumière (202, 402) destinée à réfléchir un faisceau de lumière à partir de la surface d'échantillon, et un détecteur de lumière (208, 408) comprenant une surface de détection de lumière destinée à une détection de lumière continue. Une lentille peut recevoir le faisceau de lumière réfléchi à partir de la surface d'échantillon et focaliser ce faisceau de lumière sur la surface de détection de lumière du détecteur de lumière. L'aire du faisceau de lumière avant la lentille peut être différente d'une aire d'une surface de réception de lentille. Un analyseur de référence peut être utilisé pour déterminer la surface optique sur la base d'une comparaison de la lumière réfléchie reçue avec des valeurs de lumière réfléchie connues pour des surfaces d'échantillon connues.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Honeywell International Inc.
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