G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 1/28 (2006.01)
Patent
CA 2677810
A method for analyzing seismic data from a formation. The method may first receive two-dimensional (2 D) seismic data of a formation comprising a number of individual seismic lines acquired over an exploration area and having a large interline spacing. The 2 D seismic data may then be preprocessed to enhance diffracted energy. For each respective hypothetical diffractor location, the method may then search for coherent diffraction arrivals on nearby 2 D seismic lines consistent with the respective hypothetical diffractor location. The method may then store information regarding identified diffractor locations. The method may then create a map based on the identified diffractor locations, wherein the map illustrates areas of high diffraction. The map may then be displayed on a display, wherein the map is useable to assess the formation.
L'invention concerne un procédé pour analyser des données sismiques provenant d'une formation. Le procédé peut d'abord recevoir des données sismiques en deux dimensions (2 D) d'une formation comprenant un nombre de lignes sismiques individuelles acquises sur une zone d'exploration et ayant un espacement d'interligne large. Les données sismiques en 2 D peuvent ensuite être prétraitées afin d'améliorer l'énergie diffractée. Pour chaque emplacement hypothétique respectif de diffracteur, le procédé peut ensuite chercher des arrivées cohérentes de diffraction sur des lignes sismiques régulières en 2 D à proximité de l'emplacement hypothétique respectif de diffracteur. Le procédé peut ensuite stocker des informations concernant les emplacements identifiés du diffracteur. Le procédé peut ensuite créer un plan basé sur les emplacements identifiés du diffracteur, où le plan illustre des zones de diffraction élevée. Le plan peut ensuite être affiché sur un écran, sur lequel le plan est utilisé pour évaluer la formation.
Goudreau Gage Dubuc
Landmark Graphics Corporation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1827545