C - Chemistry – Metallurgy – 12 – M
Patent
C - Chemistry, Metallurgy
12
M
C12M 1/34 (2006.01) C12Q 1/02 (2006.01)
Patent
CA 2564360
A system and method for high throughput patch clamp measurements to study the effect of various chemicals on ion transfer channels is provided. One or more patch clamp configurations is established, each comprising a cell sealed to a pipette. The pipettes are affixed to a pipette fixture. The pipette fixture and a plate comprising one or more wells are relatively moved so that each cell is inside a well. Electrical properties of the cells are measured.
Il est prévu un système et un procédé de mesures haut rendement de fixation de patch pour étudier l~effet de divers produits chimiques sur des canaux de transfert ionique. Une ou plusieurs configurations de fixation de patch sont établies, chacune comprenant une cellule scellée à une pipette. Les pipettes sont fixées à un système de fixation de pipette. Le système de fixation de pipette et une plaque comprenant un ou plusieurs puits sont déplacés l~un par rapport à l~autre pour disposer chaque cellule dans un puits. On mesure alors les propriétés électriques des cellules.
Bowlby Mark Robert
Federkiewicz Anton
Merrill Thomas L.
Vasylyev Dmytro Vasylyovych
Torys Llp
Wyeth
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1720150