G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/27 (2006.01) G01J 3/28 (2006.01) G01N 21/43 (2006.01)
Patent
CA 2758113
Spectroscopy apparatuses oriented to the critical angle of the sample are described that detecting the spectral characteristics of a sample wherein the apparatus consists of an electromagnetic radiation source adapted to excite a sample with electromagnetic radiation introduced to the sample at a location at an angle of incidence at or near a critical angle of the sample; a transmitting crystal in communication with the electromagnetic radiation source and the sample, the transmitting crystal having a high refractive index adapted to reflect the electromagnetic radiation internally; a reflector adapted to introduce the electromagnetic radiation to the sample at or near an angle of incidence near the critical angle between the transmitting crystal and sample; and a detector for detecting the electromagnetic radiation from the sample. Also, provided herein are methods, systems, and kits incorporating the peri-critical reflection spectroscopy apparatus.
La présente invention concerne des appareils de spectroscopie orientés sur l'angle critique de l'échantillon pour détecter les caractéristiques spectrales d'un échantillon, l'appareil consistant en une source de rayonnements électromagnétiques conçue pour exciter un échantillon avec des rayonnements électromagnétiques dirigés sur l'échantillon à un endroit avec un angle d'incidence égal ou proche d'un angle critique de l'échantillon ; un cristal transmetteur en communication avec la source de rayonnements électromagnétiques et l'échantillon, le cristal transmetteur ayant un indice de réfraction élevé ajusté pour refléter les rayonnements électromagnétiques de manière interne ; un réflecteur conçu pour diriger les rayonnements électromagnétiques sur l'échantillon avec un angle d'incidence égal ou proche de l'angle critique entre le cristal transmetteur et l'échantillon ; et un détecteur destiné à détecter les rayonnements électromagnétiques provenant de l'échantillon. L'invention concerne également des procédés, des systèmes, et des kits incorporant l'appareil de spectroscopie de réflexion péri-critique.
Rare Light Inc.
Riches Mckenzie & Herbert Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1941019