G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/04 (2006.01)
Patent
CA 2662329
Phase contrast imaging is achieved using a sample mask 8 and a detector mask (6). X- rays emitted from x-ray source (2) are formed into individual beams (16) by sample mask which pass through sample (14) and arrive at individual pixels (12) of the detector (4) through detector mask (6). The individual x-ray beams are arranged to hit the pixel edge (20) of individual rows of pixels, individual columns of pixels or individual pixels. Small deviations .theta. in the individual beams (16) cause a significant increase or decrease in the signal hitting the exposed area (22) of the pixel resulting in a significant phase contrast signal.
Selon l'invention, une imagerie à contraste de phase est réalisée à l'aide d'un masque d'échantillon (8) et d'un masque de détection (6). Des rayons X émis d'une source de rayons X (2) sont constitués en faisceaux individuels (16) par le masque d'échantillon, traversent un échantillon (14) et arrivent au niveau de pixels individuels (12) du detecteur (4) à travers le masque de détection (6). Les faisceaux de rayons X individuels sont conçus pour heurter le bord des pixels (20) de rangées individuelles de pixels, de colonnes individuelles de pixels ou de pixels individuels. De petites déviations .theta. des faisceaux individuels (16) provoquent une augmentation ou une diminution notable du signal qui heurte la surface exposée (22) du pixel, produisant ainsi un signal à contraste de phase considérable.
Olivo Alessandro
Speller Robert D.
Riches Mckenzie & Herbert Llp
Ucl Business Plc
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1402480