H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 41/06 (2006.01) H01J 41/10 (2006.01) H01J 49/38 (2006.01) H01J 49/42 (2006.01)
Patent
CA 2345989
During operation of a FTICR MS the time after the opening of the pulsed valve sample gas inlet system that the peak of sample gas pressure occurs in the vacuum chamber is determined by measuring the amplitude of the ion pump current. The FTICR MS then uses that time and the known period of time for which a source of electrons used for an ionization event is energized to energize the electron source so that the known period of time includes the peak of vacuum chamber sample gas pressure. This allows ions to be created during the peak of the sample gas pressure to thereby obtain the maximum sensitivity during measurements.
Pendant le fonctionnement d'un spectromètre de masse à résonance cyclotonique ionique à haut champ et transformée de Fourier, le moment faisant suite à l'ouverture du système d'introduction de gaz échantillon à soupape pulsée où se produit la crête de la pression du gaz échantillon dans la chambre à vide est déterminé par la mesure de l'amplitude du courant de pompe ionique. Le spectromètre de masse à résonance cyclotonique ionique à haut champ et transformée de Fourier utilise ensuite ce moment et la période de temps connue pendant lesquels une source d'électrons utilisée pour un événement d'ionisation est parcourue par le courant pour exciter la source d'électrons afin que la crête de la pression du gaz échantillon dans la chambre à vide se situe dans la période de temps connue. Ceci permet à des ions d'être produits pendant la crête de la pression du gaz échantillon et d'obtenir ainsi la sensibilité maximale pendant les mesures.
Arnold Robert W.
Littlejohn Duane P.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1585623