G - Physics – 01 – Q
Patent
G - Physics
01
Q
G01Q 70/18 (2010.01) G01Q 60/16 (2010.01) G01Q 60/40 (2010.01) G01Q 60/42 (2010.01) G01Q 10/00 (2010.01) G01Q 60/24 (2010.01)
Patent
CA 2392004
There is provided a probe for a scanning probe microscope, comprising: a proximal end; and a distal tip portion, wherein the distal tip portion has a tip surface which faces a fixed sample, and at least one monolayer is formed at least on the tip surface, and a molecule having a chemical sensor function or catalytic function is placed in or on an outermost monolayer above the tip surface. There is provided a probe for a scanning probe microscope, comprising: a cover layer containing an electrically conductive polymer; and a catalyst in the cover layer, the catalyst being selected from a group consisting of inorganic catalysts and organic catalysts. There are provided a scanning probe microscope equipped with the above probe, and a molecule processing method using such a scanning probe microscope.
L'invention concerne une sonde pour microscopes-sondes à balayage, qui comprend une extrémité proximale et une extrémité distale, l'extrémité distale possédant une surface d'extrémité frontale faisant face à un échantillon fixe, au moins une couche monomoléculaire étant appliquée sur au moins la surface d'extrémité frontale, et des molécules possédant une fonction de capteur chimique ou une fonction de catalyseur étant placées dans la couche monomoléculaire de la surface extérieure située sur la surface d'extrémité frontale ou sur la couche monomoléculaire de la surface extérieure. L'invention concerne également une sonde pour microscopes-sondes à balayage, qui comprend une couche de revêtement contenant un polymère conducteur au niveau électrique, cette couche de revêtement contenant un catalyseur choisi dans un groupe comprenant un catalyseur inorganique et un catalyseur organique. L'invention concerne également un microscope-sonde à balayage possédant la sonde susmentionnée, et un procédé de traitement polymère faisant appel à ce microscope-sonde à balayage.
Nakagawa Tohru
Yukimasa Tetsuo
Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.
Osler Hoskin & Harcourt Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1518116