G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/34 (2006.01) G01R 31/01 (2006.01) G01R 31/06 (2006.01)
Patent
CA 2211958
A probe positioning assembly for an armature tester has a plurality of electrical probes corresponding to the number of commutator bars in the armature to be tested. The probes are mounted on insulating blocks that are connected by spring arms to an insulating ring. In their neutral positions, the probes define a circular opening into which the armature can enter with clearance between the probes and the commutator. An actuator in contact with each support block also contacts at its other end a flexible membrane defining one wall of a hollow annular chamber surrounding the assembly. After the armature is in position with the commutator bars adjacent the probes, the hollow chamber is pressurized, causing the membrane to uniformly and simultaneously push on each actuator, so that each support block and the probes carried thereby move uniformly and simultaneously toward the commutator, until the probes touch the commutator bars. Testing can then be carried out, after which the hollow chamber is depressurized, allowing the support blocks and their probes to return to the neutral position under the influence of the spring arms. By providing a socket in the test station for receiving the assembly, one can provide a system that can test armatures of different sizes by inserting different sized assemblies in the socket.
Cette invention concerne un dispositif positionneur de sondes de vérification d'induit qui porte une pluralité de sondes dont le nombre correspond à celui des lames qui composent l'induit. Les sondes sont montées sur blocs non conducteurs raccordés via lames-ressort à un anneau isolant. En position neutre, les sondes définissent une ouverture circulaire recevant l'induit à tester avec un jeu annulaire entre les sondes et le collecteur. Un actionneur en contact avec le bloc non conducteur correspondant touche également par son autre bout une membrane souple constituant la paroi d'une enceinte annulaire vide autour du positionneur. Une fois l'induit en place et les lames d'induit à proximité des sondes, l'enceinte annulaire est mise en pression de façon que la membrane souple appuie uniformément et simultanément sur les sondes, via les actionneurs, jusqu'à contact avec les lames d'induit. L'essai s'effectue alors et, tout de suite après, l'enceinte annulaire est dépressurisée pour laisser les ensembles bloc non conducteur/sonde retourner à la position neutre sous l'effet des lames-ressort. Le poste d'essai étant équipé d'une douille où placer le positionneur de sondes, on obtient un système adaptable à des induits de différentes tailles en changeant de calibre de positionneur.
Galassi Rossano
Manuelli Giovanni
LandOfFree
Probe positioning assembly for armature tester does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Probe positioning assembly for armature tester, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Probe positioning assembly for armature tester will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1691552