Procede et dispositif pour l'inversion interferometrique a...

G - Physics – 01 – J

Patent

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Details

G01J 3/45 (2006.01)

Patent

CA 2705659

The invention relates according to a first aspect to an interferometric inversion method for measuring a characteristic variable of a radiation source and/or of a medium through which the radiation passes between the source and an interferometer, the interferometer being capable of generating an interferogram of the radiation by creating a finite number of optical step differences between two rays that have followed the same path between the source and the interferometer, characterized by the implementation of the steps whereby a quantity characterizing an improvement in the inversion is determined, step differences that contribute mainly to optimizing the quantity characterizing an improvement in the inversion are selected without sampling regularity constraints, and a free interferogram is generated using only the selected step differences. According to a second aspect, the invention provides an interferometer for implementing the method according to the first aspect of the invention.

L'invention concerne selon un premier aspect un procédé d'inversion interférométrique pour la mesure d'une variable caractéristique d'une source de rayonnement et/ou d'un milieu traversé par le rayonnement entre la source et un interféromètre, l'interféromètre étant apte à élaborer un interférogramme du rayonnement en créant un nombre fini de différences de marche optique entre deux rayons ayant suivi le même chemin entre la source et l'interféromètre, caractérisé par la mise en oeuvre des étapes selon lesquelles on détermine une grandeur caractérisant une amélioration de l'inversion, on sélectionne, sans contraintes de régularité de marche qui contribuent principalement à l'optimisation de la grandeur caractérisant une amélioration de l'inversion, on élabore une interférogramme libre en utilisant uniquement les différences de marche sélectionnées. Selon un second aspect, l'invention prévoit un interféromètre pour la mise en oeuvre du procédé selon le premier aspect de l'invention.

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